便攜式X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得X射線信號(hào)的特征，并通過處理得到衍射圖樣。利用光譜信息不只可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的位相測(cè)定，還可以觀察晶體中是否存在缺陷（位錯(cuò)）和晶格缺陷。衍射儀具有檢測(cè)速度快、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)，普遍應(yīng)用于粉體、單晶、多晶等大塊材料的測(cè)量。所有系統(tǒng)，從X射線源到光學(xué)元件、測(cè)角儀、樣品臺(tái)和探測(cè)器，都可以自動(dòng)調(diào)節(jié)。當(dāng)自動(dòng)調(diào)整開始時(shí)，儀器將自動(dòng)調(diào)整高度、角度、CBO光學(xué)系統(tǒng)、入射單色儀、狹縫高度、樣品表面位置和探測(cè)器角度至良好狀態(tài)。上海澤權(quán)的衍射儀質(zhì)量可靠嗎？歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！宿遷衍射儀代理哪家好

便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射能級(jí)0.5mRad/H；樣品振動(dòng)系統(tǒng)，測(cè)量角度范圍：5°—55°，微量樣品室：小可檢測(cè)樣品量15mg，掃描方式：全譜掃描；探測(cè)器，探測(cè)效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷卻系統(tǒng)：制冷方式：2D Peltier 電子制冷，儀器制冷效率：儀器正常工作持續(xù)8時(shí)機(jī)箱溫度不超過35℃；數(shù)據(jù)庫(kù)：PDF2由國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多種礦物30000多個(gè)礦物數(shù)據(jù)。 上海奧林巴斯XRD公司哪家好歡迎致電上海澤權(quán)咨詢衍射儀。歡迎來(lái)電咨詢上海澤權(quán)！

X射線衍射的一般實(shí)驗(yàn)過程： 1．樣品制備 對(duì)于粉末樣品，通常要求其顆粒的平均粒徑控制在5mm左右，即過320目（約40mm）的篩子，還要求試樣無(wú)擇優(yōu)取向。因此，通常應(yīng)用瑪瑙研缽對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行充分研磨后使用。 對(duì)于塊狀樣品應(yīng)切割出合適的大小，即不超過鋁制樣品架的矩形孔洞的尺寸，另外還要用砂輪和砂紙將其測(cè)試面磨得平整光滑。 2．充填試樣 將適量研磨好的試樣粉末填入樣品架的凹槽中，使粉末試樣在凹槽里均勻分布，并用平整光滑的玻片將其壓緊；將槽外或高出樣品架的多余粉末刮去，然后重新將樣品壓平實(shí)，使樣品表面與樣品架邊緣在同一水平面上。 塊狀樣品直接用橡皮泥或石蠟粘在鋁制樣品架的矩形孔洞中，要求樣品表面與鋁制樣品架表面平齊。

X射線粉末衍射儀的應(yīng)用領(lǐng)域和注意事項(xiàng)介紹:X射線粉末衍射儀適用性很廣，通常用于測(cè)量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測(cè)快速、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長(zhǎng)、周相與入射光相同。基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。X射線粉末衍射儀的應(yīng)用介紹： 1，判斷物質(zhì)是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質(zhì)。 3，判斷物質(zhì)的晶型。 4，計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。 5，定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例。 6，計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7，和其他專業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途。 比如可以通過晶體結(jié)構(gòu)來(lái)判斷物質(zhì)變形，變性，反應(yīng)程度等。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行非破壞性分析的儀器。

多晶體衍射儀計(jì)數(shù)測(cè)量方法分為連續(xù)掃描和步進(jìn)（階梯）掃描兩種。1.連續(xù)掃描法：連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高，一般用于對(duì)樣品的全掃描測(cè)量（如物相定性分析）。步進(jìn)掃描法：步進(jìn)掃描測(cè)量精度高并受步進(jìn)寬度與步進(jìn)時(shí)間的影響，適用于做各種定量分析工作。測(cè)量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時(shí)間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，對(duì)衍射先進(jìn)行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，反映著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。浙江奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD哪家可以代理

工業(yè)X射線衍射儀是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。宿遷衍射儀代理哪家好

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來(lái)研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。宿遷衍射儀代理哪家好

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